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          掃描開爾文探針

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          掃描開爾文探針

          掃描開爾文探針
          掃描開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置,用于測試導電材料的功函或半導體材料表面的表面電勢,表面功函。由材料表面最頂部的1-3層原子或分子決定,因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業界最高分辨率的測試系統。

          主要特點:
          ● 功函分辨率< 3meV
          ● 掃描面積:5mm to 300mm(四種型號,每種型號掃描面積不同)
          ● 掃描分辨率:317.5nm
          ● 自動高度調節
          應用領域:
          ● 有機和非有機半導體
          ● 金屬
          ● 薄膜
          ● 太陽能電池和有機光伏材料
          ● 腐蝕
          升級附件:
          ● 大氣光子發射系統
          ● 表面光電壓(QTH or LED)
          ● SPS表面光電壓光譜(400-1000nm)
          ● 金或不銹鋼探針,直徑0.05mm to 20mm
          ● 相對濕度控制和氮氣環境箱

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